2022年5月13日
Zeta 電位性能驗證
本指南旨在介紹用于驗證 NanoBrook ZetaPlus、ZetaPALS、90PlusPALS 和 Omni 儀器性能的 Zeta 電位驗證樣品的正確制備方法。
應(yīng)用領(lǐng)域： Zeta 電位樣品制備
儀器： NanoBrook 系列
儀器： NanoBrook 系列
2021年8月11日
什么是離散粒度分布？
在本系列關(guān)于粒度及其分布的上一篇文章中，我們已使用連續(xù)分布定義了微分粒度分布和累積粒度分布函數(shù)的主要特征，并對此進行了討論。
應(yīng)用領(lǐng)域： 動態(tài)光散射（DLS）粒度測量
2021年5月20日
使用靜態(tài)光散射測定聚合物分子量
靜態(tài)光散射（SLS）是一種利用高精度光子計數(shù)來測量粒徑、分子量和其他結(jié)構(gòu)參數(shù)的技術(shù)。
應(yīng)用領(lǐng)域： 分子量動態(tài)光散射（DLS）靜態(tài)光散射（SLS）
2021年3月26日
利用動態(tài)光散射（DLS）和 Zeta 電位表征脂質(zhì)體：藥物遞送工具
脂質(zhì)體是一種常用的體系，用于包裹和遞送具有生物活性的載藥分子。
應(yīng)用領(lǐng)域： Zeta 電位生物制藥粒度測量藥物遞送
儀器： NanoBrook 系列
儀器： NanoBrook 系列
2021年2月16日
測量炭黑的有效工具
使用工業(yè)碳黑樣品來驗證布魯克海文儀器公司 BI-DCP 圓盤式離心沉降粒度儀的功效。
應(yīng)用領(lǐng)域： 碳黑粒度測量
儀器： BI-DCP
儀器： BI-DCP
2021年1月26日
動態(tài)光散射（DLS）常見問題：基線指數(shù)
基線指數(shù)（Baseline Index，簡稱<26>BI）是一個用于量化灰塵污染對動態(tài)光散射（DLS）測量影響的關(guān)鍵指標(biāo)。
應(yīng)用領(lǐng)域： 動態(tài)光散射（DLS）
儀器： NanoBrook 系列Particle ExplorerParticle Solutions
儀器： NanoBrook 系列Particle ExplorerParticle Solutions
2020年12月17日
光散射在高性能聚合物及其他功能材料生產(chǎn)中的作用
光散射技術(shù)可用于解決在處理特殊功能塑料及相關(guān)聚合物前體時遇到的諸多獨特問題。
應(yīng)用領(lǐng)域： 分子量制造材料聚合物
儀器： BI-200SMNanoBrook 系列
儀器： BI-200SMNanoBrook 系列
2020年11月25日
使用 BI-ZTU 進行 pH 自動滴定
布魯克海文儀器公司的自動滴定儀（BI-ZTU）為研究人員提供了一種研究 pH 值對 Zeta 電位（ζ）影響的工具。
應(yīng)用領(lǐng)域： Zeta 電位滴定
儀器： BI-ZTUNanoBrook 系列
儀器： BI-ZTUNanoBrook 系列